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X射線熒光光譜(XRF)
X射線熒光光譜(XRF)
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡(jiǎn)稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。一般是半定量測(cè)試,測(cè)到的都是元素含量,氧化物含量也是根據(jù)單質(zhì)含量進(jìn)行換算的,可作為一種快速的無(wú)損分析。
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  項(xiàng)目簡(jiǎn)介

  X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡(jiǎn)稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。一般是半定量測(cè)試,測(cè)到的都是元素含量,氧化物含量也是根據(jù)單質(zhì)含量進(jìn)行換算的,可作為一種快速的無(wú)損分析。

  可測(cè)元素范圍:常規(guī)測(cè)試范圍9F-92U,部分儀器可以測(cè)到O元素,如果需要測(cè)到O需要備注好,但是O的結(jié)果不準(zhǔn)。

  制樣方法:壓片、融片

  結(jié)果模式:?jiǎn)钨|(zhì)、氧化物

  結(jié)果展示

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  常見(jiàn)問(wèn)題

  1. 儀器的檢測(cè)限多少?元素含量低于多少結(jié)果會(huì)不可靠?

  理論上儀器的檢測(cè)限為ppm—100%,但實(shí)際上 當(dāng)元素含量低于1%時(shí)測(cè)量會(huì)存在誤差,結(jié)果只能做為參考;

  2. XRF對(duì)樣品有什么要求,片狀樣品可以測(cè)試嗎?

  XRF樣品z好磨成粉末,且樣品量確保在3g以上,因?yàn)樾枰偷矸蹓浩鬁y(cè)試,如果樣品量太少,會(huì)導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確;

  片狀樣品要求表面平整光潔無(wú)污染,直徑34-38 mm,厚度為3-5 mm的圓柱;只能定性+半定量,如需準(zhǔn)確定量z好是粉末,且顆粒大的必須磨成粉。

  • 儀器設(shè)備
  • 實(shí)驗(yàn)室


  • 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)


  • 傅里葉紅外


  • 電化學(xué)


  • tem


  • STA同步熱分析儀


  • ICP


  • DSC示差掃描量熱


  • DIL熱膨脹